產(chǎn)品分類

用于FEI/Thermo雙束系統(tǒng)的EBSD-3D樣品臺

荷蘭M2N供應(yīng)的EBSD-3D樣品臺專用于FEI/Thermo雙束場發(fā)射掃描電鏡-聚焦離子束（FE-SEM/FIB）系統(tǒng)，可實現(xiàn)樣品的FIB銑削與EBSD數(shù)據(jù)采集功能。通過在銑削位置與EBSD觀測位置之間進(jìn)行180°重復(fù)旋轉(zhuǎn)，可獲取樣品的三維EBSD圖譜數(shù)據(jù)。該樣品臺需配合FEI EBS3軟件及FEI/Thermo雙束系統(tǒng)使用。 EBSD-3D樣品臺支持樣品表面與截面分析：其設(shè)計包含54°（短斜面）和36°（長斜面）兩種傾角界面，通過M6細(xì)牙螺紋固定在樣品臺中心基座，工作時樣品臺需預(yù)置16°傾角。

產(chǎn)品詳情

荷蘭M2N供應(yīng)的EM Tec系列SEM樣品臺，包括多種使您更容易和更快地將樣品直接裝載到SEM中的樣品臺。樣品通過在鉗口間夾緊或用螺釘固定來裝載。一旦樣品被正確固定，樣品不會松動漂移，這增加了成像和分析的空間分辨率。采用該系列樣品臺，也不會出現(xiàn)氣體釋放或污染問題。所有樣品臺既可以直接使用，也可以加裝適配器與掃描電鏡載物臺一起使用，幾乎可以與任何標(biāo)準(zhǔn)的掃描電鏡完美兼容。此外，還供應(yīng)臺式掃描電鏡的樣品臺。

 

SEM樣品臺種類繁多，限于篇幅，本文僅介紹其中的用于FEI/Thermo雙束SEM-FIB系統(tǒng)的專用EBSD-3D樣品臺（EBSD-3D sample holder for FEI / Thermo DualBeam SEM-FIB systems）。
EBSD-3D樣品臺

荷蘭M2N供應(yīng)的EBSD-3D樣品臺專用于FEI/Thermo雙束場發(fā)射掃描電鏡-聚焦離子束（FE-SEM/FIB）系統(tǒng)，可實現(xiàn)樣品的FIB銑削與EBSD數(shù)據(jù)采集功能。通過在銑削位置與EBSD觀測位置之間進(jìn)行180°重復(fù)旋轉(zhuǎn)，可獲取樣品的三維EBSD圖譜數(shù)據(jù)。該樣品臺需配合FEI EBS3軟件及FEI/Thermo雙束系統(tǒng)使用。

EBSD-3D樣品臺支持樣品表面與截面分析：其設(shè)計包含54°（短斜面）和36°（長斜面）兩種傾角界面，通過M6細(xì)牙螺紋固定在樣品臺中心基座，工作時樣品臺需預(yù)置16°傾角。

 

圖片1：截面分析

 

圖片2：大表面分析

進(jìn)行截面分析時

樣品需固定在EBSD-3D樣品臺的短斜面。結(jié)合16°預(yù)傾角，實際傾角為36°+16°=52°，此時樣品截面垂直于FIB束柱。當(dāng)樣品臺旋轉(zhuǎn)180°后，銑削表面處于54°+16°=70°理想傾角，適用于EBSD數(shù)據(jù)采集。

進(jìn)行大表面分析時

進(jìn)行大表面分析時，樣品需固定在EBSD-3D樣品臺的長斜面。在16°預(yù)傾角配合下，實際傾角為36°+16°=52°，使樣品表面垂直于FIB束柱。樣品臺旋轉(zhuǎn)180°后，銑削表面同樣處于54°+16°=70°最佳EBSD采集傾角。

EBSD-3D樣品臺的采用真空級鋁合金材質(zhì)，是與FEI EBS3

軟件用戶協(xié)同研發(fā)的專業(yè)配件。

詳細(xì)訂購信息：

 

具有鋼結(jié)構(gòu)工程專業(yè)承包二級資質(zhì)、建筑工程施工總承包貳級資質(zhì)；公司主營產(chǎn)品包括重鋼、輕鋼、網(wǎng)架及檁條、彩鋼板等鋼結(jié)構(gòu)產(chǎn)品；近年來，公司承接了國內(nèi)外大型結(jié)構(gòu)件、橋梁、車庫、標(biāo)準(zhǔn)化廠房等具有較大影響力的一系列項目；產(chǎn)品遠(yuǎn)銷白俄羅斯、贊比亞、印尼等國家，得到了一致好評。

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